可靠性分析

　　海威华芯以半导体物理和器件物理为基础，工艺和产品特性为导向，结合业界各类相关标准(国军标、美军标、JEDEC、AEC-Q等)，依据各类加速模型(温度加速、电压加速、电流加速、功率加速等)设计可靠性试验，采用统计分布(正态、对数正态、Weibull等)预测可靠性水平，为产品、工艺优化提供支撑和改善方向。