公司拥有洁净度1000级的测试场地，并拥有业内先进的仪器设备，如：Cascade 的高低温自动探针台、PNA-X矢量网络分析仪、信号源、频谱仪、噪声仪、半导体参数分析仪等仪器设备，具备化合物半导体器件及芯片的直流测试能力和射频测试能力，可完成单颗有源及无源器件、MMIC芯片以及整晶圆级的测试，能进行质量一致性检验

　　直流方面可对无源及有源器件的各项直流指标进行测量，其中电流测试可达到fA量级。

　　射频方面，可对器件进行小信号S参数测试，负载牵引测试、噪声测试。其中小信号S参数测试 频率可达67GHz;负载牵引测试频率可覆盖0.8-50GHz;噪声测试频率可覆盖8-50GHz。对MMIC芯片可以 进行无源类芯片、功率放大类芯片、开关类芯片、混频类芯片以及多功能芯片的在片测试，频率最 高可达67GHz。

       对于整晶圆，我们可根据器件或芯片种类进行不同直流特性及射频特性的自动化CP测试，从而对器件或芯片的各项性能指标进行筛选。